
引言
氮化镓(GaN)功率器件正在改变功率电子行业,提升了许多消费类应用的效率。GaN技术已经在65W到3.2kW的低功率应用中得到广泛应用,如快速充电器和电源。近期的技术突破正在推动GaN向高功率应用发展,这将对经济、生态和社会产生重要影响[1]。
高压GaN技术
1200V GaN技术的开发是功率电子领域的重要进展。GaN高电子迁移率晶体管(HEMTs)能够覆盖从100V到1200V的商用电压范围,可以有效地与硅基IGBT、硅基CoolMOS和碳化硅晶体管竞争。
图1:采用低成本、大尺寸绝缘蓝宝石衬底的1200V GaN HEMT级联结构示意图。图中展示了器件结构、SiC和GaN性能参数对比以及性能特性。
使用蓝宝石作为衬底材料是一项重要突破,其优异的电绝缘性能可以消除漏极和衬底之间的击穿。在前端制造过程中,蓝宝石上的III族氮化物缓冲层厚度可以减少超过60%,这显著降低了外延成本,同时在150mm和200mm衬底上都保持了良好的晶体质量和高电绝缘性。在后端工艺中,可以将蓝宝石减薄至150-200μm以匹配硅的导热性能。蓝宝石已经是GaN LED的首选衬底,具有丰富的工艺知识和工业化大规模生产生态系统。
实验结果表明,采用TO-247封装的70mΩ蓝宝石基双芯片常关型GaN FET,在50kHz工作频率下实现了900:450V降压转换器超过99%的效率。该器件展现出优异的开关性能指标,Ron∙Qg = 0.9Ω∙nC,Ron∙Qrr = 11Ω∙nC。这些结果表明,经过优化的蓝宝石基GaN技术可以在1200V功率器件市场中具有很强的竞争力。
大电流能力
图2:单个10mΩ GaN芯片的开关波形和效率曲线,实现了99.3%的记录性效率和14kW的输出功率,结温仅为120°C。
大电流GaN技术的进步体现在导通电阻为10mΩ、额定直流电流超过170A的原型器件上。该芯片面积达到数十平方毫米,可以装入常规的TO-247-3L封装。硬开关波形显示,器件达到了50V/ns和4A/ns的开关速度,支持高功率和高频率开关。在50kHz硬开关模式下运行的240V:400V升压转换器效率在4kW时达到峰值99.3%,并平稳降至14kW。值得注意的是,在14kW时,结温仅为120°C,表明还有进一步提升功率的空间。
这种优异性能的原因在于快速的开关速度最小化了开关损耗,在级联配置中与低压Si-MOSFET组合的耗尽型GaN具有低动态导通电阻(小于10%),以及较低的电阻温度系数(150°C和25°C之间小于1.8倍,类似于SiC沟槽MOSFET技术),这些特性共同贡献了运行中的低导通损耗。
增强的安全特性
图3:专利GaN技术实现电机驱动逆变器中5μs短路耐受时间的示意图。
在电机驱动应用中,GaN器件不仅要通过严格的JEDEC或AEC-Q0101认证,还必须能够承受由过载、击穿、固件错误、电流浪涌或外部故障条件引起的短路事件。2021年,Transphorm公司展示了一项专利GaN技术,在50mΩ器件上实现了高达3微秒的短路耐受时间(SCWT)。今年,该技术取得显著进步,在15mΩ器件上实现了5μs的SCWT,该器件能够处理高功率运行(12kW)。该器件采用TO-247封装,额定电压为650V,额定直流电流为145A。在drain偏压400V时展现出5μs的短路耐受时间,并通过了1000小时175°C高温反向偏压应力测试。这些数据说明了GaN器件的适应性,打破了关于GaN不具备短路能力的传统认识。值得注意的是,现代栅极驱动器的保护响应时间约为1μs,确保了足够的时间来检测故障并安全关闭系统,避免器件失效。
双向开关创新
图4:具有公共漏极和共享漂移区的单片集成GaN双向开关,实现更小的占位面积、更好的性能指标和更少的器件数量。
图5:采用耗尽型单片GaN与低压Si-FET级联配置的GaN双向开关(BDS)实现方案,提供增强的阈值电压、栅极裕度、可靠性和抗噪声能力。
图6:使用GaN BDS的电路拓扑,展示了隔离式矩阵双向有源桥和非隔离式T型中性点钳位结构,用于高效率功率转换。
得益于横向结构,GaN器件非常适合单片集成。通过将两个晶体管反向串联进行单片集成,创造了所谓的"双向开关"。双向开关具有两个相对的源极,由两个相对的栅极控制,可以双向导通电流和承受双极性电压。这种独特于GaN的简单器件结构对于AC前端应用具有重要意义,因为功率器件需要承受正负交流波。
在这项工作中,展示了一种GaN双向技术,其中单片集成的耗尽型双向GaN HEMT与两个低压硅MOSFET形成级联配置以实现常关运行。HEMT的单片集成允许共享高压漂移区,与两个分立GaN开关相比,die尺寸减少了40%。低压硅MOSFET实现了高阈值电压(4V),高栅极裕度(+20V),高可靠性以及对噪声和寄生开启的高抗扰度。双向级联器件使用叠层die技术集成,以最小化占位面积和互连电阻及电感。该解决方案组装在带有隔离tab的单个TO-247封装中。
图7:GaN BDS在单级AC/DC前端中的开关波形,采用矩阵有源桥结构,显示三相正弦AC输入和DC输出特性。
GaN双向开关已在矩阵有源桥中进行了单级AC/DC前端测试,结果显示能够在两种AC极性下实现电压阻断并成功进行系统演示。这些技术进步正在推动数据中心、人工智能、交通运输和可再生能源系统等各种应用中更高效、更紧凑、更可靠的功率转换系统的发展。
参考文献
[1] U. K. Mishra, D. Bisi, G. Gupta, C. J. Neufeld, and P. Parikh, "The Future of GaN is also High Voltage, High Current, and Bidirectional," in 2024 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), San Francisco, CA, USA, 2024
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